U盘安国量产“存储器设定”项如何设置详细解释图文教程

     大家在量产安国主控U盘的时候是否对量产设置里的大量设定项目完全不知道是什么，大多数朋友可能只知道跟着教程选择就是，也不需要了解为什么要这样设置，但如果你有兴趣的话，可以在下面的教程详细了解安国的具体设置项目是什么，具体什么意思等教程，首先给大家介绍的是其中的第一个设定项目-存储器设定如下图：

存储器设定包含下面2个大设置：

一、存储器类别：

    1、FLASH类型：显示当前FLASH的类型，亦可手动设置。
    2、FLASH数量：显示当前检测到的FLASH数量，亦可手动设置。
通道：自动检测当前U盘量产的模式是单通道还是双通道，亦可手动设置。
    3、读写回圈时间：读写的周期时间，亦可手动设置。
    4、禁止自动检测：在存储器类型栏中如果勾选“禁止自动检测”栏，量产工具则不自动检测FLASH的型号和其他配置信息，需手动设置。若不勾选“禁止自动检测”，量产工具会自动检测FLASH的型号，并根据FLASH类型自动检测量产FLASH的配置文件、默认FLASH数量和通道及读写回圈时间。

二、量产设定：

1、优化方式
    优化方式分为U盘速度优先、U盘容量优先和原低格设定：
    (1)、U盘速度优先：U盘的读写速度为先取条件，容量次之。
    (2)、U盘容量优先：U盘的容量为先取条件，不考虑U盘的读写速度。选择“U盘容量优先”时可设置当容量大于总容量百分之几时自动转为“U盘速度优先”优化方式，且量产完成后会在界面上显示C表示是容量优先，S表示是速度优先。
    (3)、原低格设定：使用原来低格时所选择的优化方式和ECC值进行高级格式化。
注：U盘容量优先量产出来的容量比U盘速度优先量产出来的容量高一些，U盘速度优先量产出来U盘的读写速度比U盘容量优先量产出来U盘的读写速度要快一些。
2、扫描方式
    (1)、高级格式化：扫描时直接读取FLASH的坏块信息，量产速度快，适用于正品原装FLASH及Au698x主控低级扫描量产过的FLASH。
    (2)、低级格式化：扫描时写数据到FLASH再读出来比较以确定坏块，量产速度较慢。如果FLASH已经被其它厂牌主控量产过，请选择此功能。
3、低格检测
    (1)、正常检测：按照正常方式进行检测，速度快一些。
    (2)、半容量检测：检测FLASH的状况判断其是否需按照切容量方式量产，状况较好的则按照正常检测方式进行量产，状况较差的以切容量进行量产，检测时需要时间，建议Half page及状况较差的FLASH选择此检测方式。
    (3)、特殊检测-Hynix：快速扫描4+全面扫描，该检测方式针对特殊的FLASH。
    (4)、强制半容量检测：直接按照切一半容量方式量产，主要针对比较特殊的FLASH。
    (5)、干扰检测：检测FLASH中的block是否有干扰，若是，则将干扰的block当作坏块，该检测方式针对特殊的FLASH。
    (6)、优化对比：增加检测FLASH的稳定性，对于稳定性较差的FLASH会显示“92F00+容量”，以便对FLASH质量等级进行分类。
    (7)、Erase After MP：量产完成后擦除FW，但可以做“高格量产过”。
    (8)、失败后半容量检测：只有在非半容量检测时该选项才可用，勾选了“失败后半容量检测”后，如果FLASH按照正常检测量产不成功则会进入半容量检测再扫描一次。

4、扫描级别
（1）、高级格式化：扫描级别分为全新、全新+AA55、量产过、清空、仅读标记坏块等五个级别：
全新：直接读取原厂坏块信息，量产速度快。
全新+AA55：在全新扫描的基础上加简单的检测，相对“全新”扫描严格一些。
量产过：直接读取上一次量产写入的坏块信息（必须是该量产工具量 产过），用该量产工具扫描过的U盘可使用“量产过”进行高级格式化；支持U盘容量优先与U盘速度优先相互转换，可以更改低格时所选ECC（即选择“量产 过”扫描方式时所选择的ECC值可以与之前量产时所选择的ECC值不同），支持单颗Sorting后进行单通道双贴/双通道双贴“量产过”高级格式化，支 持低格后使用不同的主控型号进行“量产过”高级格式化。详细的说明可参考《高级设定量产过功能说明》文档。
清空：将FLASH存储的信息全部清空。
仅读标记坏块：仅读取原厂标记的坏块（仅适用于全新原装片），不做量产。
（2）、低级格式化：扫描级别分为全面扫描和快速扫描两大类。
全面扫描：对FLASH的所有位置进行检测。
全面扫描1：对于提供较快操作模式的FLASH，可加快扫描的时间。
全面扫描2：使用一般的模式扫描，容量可能会高一些。
全面扫描3：同全面扫描1，但增加检查返回状态，做出的容量最小。
全面扫描4：扫描两次，全面1+Y扫描。
注意：
a、全面扫描1有可能比全面扫描2扫描出较多的坏块，但对大部分FLASH来说量产出的稳定性并无明显差别。
b、U盘速度优先建议选全面扫描1，U盘容量优先建议选全面扫描2。
快速扫描：对FLASH的部分位置进行检测，以快速的方式获得FLASH的大致容量。快速扫描1-4扫描方式都同全面扫描1，只是扫描block时的 page数会依次减半，快速扫描4最快。快速扫描只是快速获得FLASH的大致容量，可能会造成U盘不稳定，请用户谨慎使用。
（3）、ECC设定
质量较差的FLASH需要开放ECC对FLASH的坏块进行纠错，可提高一定的容量，但也可能存在一定的风险。ECC=0时最严格，低格出的FLASH最稳定；ECC=15时最宽松，容量可能较大，但可能存在一定的风险。
原低格设定是指使用上一次低级格式化时所选择的ECC值。
（4）、高级设定

    ECC微调级别：可对ECC进行微调，级别1-4，可适当提高FLASH的容量，建议选择级别1。
    低格校正：ECC的二次扫描，可以使得ECC扫描更为准确，但花费的时间会多一些，勾选时才生效。
    扫描次数：可手动设置低格扫描的次数，可以使得扫描更为准确，但花费的时间会多一些，勾选时才生效。
    Patten：可以选择不同的Patten进行扫描，主要针对比较特殊的flash。
    Use Block Mode：手动选择做全部block或者偶数block或者奇数block。
    Cache Program：手动选择打开或关闭cache program command。

   总结：有了上面详细的解释，相信大家对为什么要这样选择量产会有新的认识。

下一章我们将解释设置第二个大项目--装置方式设定的详细解释教程。

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